玉米表型检测系统

玉米表型检测系统可测量凸包面积,外接矩形面积,长宽比,侧视角紧凑度,侧视角投影面积,株高,茎秆节间距和茎粗,叶长,叶片弯曲度,茎叶夹角和千粒重等指标,广泛适用于各农科院,高校,育种公司,种子站的玉米研究。

玉米育种研究中,玉米表型参数和玉米产量、品质、抗逆性等密切相关,进而获取表型相关参数也显得尤为重要,因此玉米表型检测仪适用于玉米品种筛选,产量预测,基因定位,功能解析等过程。

  • 型号:TPS-BX-1
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