大豆表型检测系统

大豆表型检测系统可以测量大豆夹角,茎粗,总数量和千粒重等指标,为大豆品种筛选,产量预测,基因定位,功能解析等方面提供参数支持,广泛应用于各农科院,高校,育种公司,种子站的大豆研究。

夹角测量适用于花芽分化期,开花结荚期,鼓粒期,成熟期的动态研究,成像自动矫正,能批量添加品种名称,数据导出方便。

  • 型号:TPD-BX-1
手机手机

手机:18058731106

微信微信
微信
复制微信复制微信

一键复制微信号