TPDS-X-1 plus
水稻整穗考种测量系统
水稻的产量由单位面积穗数、穗粒数和千粒重构成,每穗的穗粒数由枝梗的数量和长度等穗部结构性状决定。水稻枝梗分为一次枝梗、二次枝梗和三次枝梗,各枝梗测量起来难度大,并且各枝梗粒数多且难数,工作效率低下。因此,开发一款能够提高测量水稻穗粒数和枝梗长度效率的产品至关重要,有助于科研工作效率的提升。
水稻整穗考种测量系统采用先进的图像处理技术,根据深度学习算法综合设计的一款软件。该产品可以测量各枝梗穗粒数、一次枝梗长度和对应穗粒数、二次枝梗长度和对应穗粒数、枝梗着粒密度、穗着粒密度以及平均值、种子粒数、千粒重。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究。









