水稻整穗考种测量系统 TPDS-X-1 plus

  • 可测量各枝梗穗粒数、一次枝梗长度和对应穗粒数、二次枝梗长度和对应穗粒数、枝梗着粒密度、穗着粒密度以及平均值、种子粒数、千粒重等指标。
  • 广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究。
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