考种分析系统-杭州托普仪器有限公司

TPKZ-1作物考种分析系统专业用于各种作物籽粒的考种，同时也适用于玉米果穗、玉米截面的测量。

作物考种分析系统 TPKZ-1

TPKZ-1-G作物考种分析系统专业用于各种作物籽粒的考种，同时也适用于玉米果穗，玉米截面的测量，分析籽粒的数量，千/百粒重与平均粒型，广泛应用于农业院校，科研院所，育种企业以及基层的农技推广部门。

TPKZ-2智能考种分析仪系统适用于水稻、小麦、玉米、油菜、豆类、花生、芝麻、高粱等脱粒后的各种作物种子室内考种分析，可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），仪器支持数据保存和无线上传，实现数据在线查看，统计、分析功能。

TPKZ-3智能考种分析系统可以测量各种表面光滑的种子籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），适用于玉米，水稻，小麦，大豆，油菜，蔬菜等种子的粒型分析。

TPKZ-3-L自动考种分析仪是基于图像识别技术，突破籽粒和感知数据采集等关键技术，研发的集玉米、大豆等散粒长、粒宽、千粒重等多参数一体化快速检测设备，实现考种过程的自动化、智能化。