智能考种分析系统 TPKZ-1

智能考种分析系统专业用于各种作物籽粒的考种,同时也适用于玉米果穗、玉米截面的测量,可自动测出籽粒数、各籽粒的粒形参数,以及其平均值,并排序输出,可测出各玉米截面上的粒长、粒宽、颜色、粒高等参数。

  • 型号:TPKZ-1
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