小麦表型检测系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标，这些参数指标在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种研究中发挥着至关重要的作用。
水稻表型检测系统可测量水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、穗长、水稻剑叶夹角、茎粗、水稻株高、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗对应的穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标，广泛应用于农科院，高校，育种公司，种子站的水稻研究。
玉米表型检测系统可测量凸包面积，外接矩形面积，长宽比，侧视角紧凑度，侧视角投影面积，株高，茎秆节间距和茎粗，叶长，叶片弯曲度，茎叶夹角和千粒重等指标，广泛适用于各农科院，高校，育种公司，种子站的玉米研究。
大豆表型检测系统可以测量大豆夹角，茎粗，总数量和千粒重等指标，为大豆品种筛选，产量预测，基因定位，功能解析等方面提供参数支持，广泛应用于各农科院，高校，育种公司，种子站的大豆研究。
水稻整穗考种测量系统采用先进的图像处理技术，根据深度学习算法综合设计的一款软件。该产品可以测量各枝梗穗粒数、一次枝梗长度和对应穗粒数、二次枝梗长度和对应穗粒数、枝梗着粒密度、穗着粒密度以及平均值、种子粒数、千粒重。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究。
作物叶片形态测量仪主要用于作物叶片形态测量，仪器拍照后，系统可自动计算出面积，周长，叶长，叶宽，病斑、虫损，锯齿面积，虫洞个数并同屏显示，支持多叶片测量。
